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購(gòu)買一臺(tái)儀器可以測(cè)試RoHS嗎？
答： 只要能切換準(zhǔn)直器和慮光片的非記數(shù)盒配置的儀器就就可以。
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可以測(cè)試電鍍藥水嗎？
答： 可以，多元素分析都可以。
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你們儀器小測(cè)量面積是多少？
答： 0.2毫米，在我們的Thick800A上。是目前世界上運(yùn)用Si-P半導(dǎo)體探測(cè)器，而不裝加毛孔纖維聚焦管可以測(cè)到得小面積，提高了分析精度，降低了儀器成本和銷售價(jià)格。
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探測(cè)器和記數(shù)盒的配置有什么區(qū)別導(dǎo)致價(jià)格差異這么大？
答： 分辨率不同，記數(shù)盒對(duì)多鍍層能量相近元素?zé)o法分辯，計(jì)算厚度誤差大，甚至不能測(cè)試，無(wú)法滿足客戶需要。
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你們儀器的測(cè)厚范圍？
答： 各種材料范圍不同，金屬一般在30微米左右，其中金8微米左右，鋁100微米左右。
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你們儀器能測(cè)量哪些厚度？
答： 儀器從鈉到鈾元素都可探測(cè)到，如要測(cè)量厚度，還需滿足條件：A、與基材和其它層有能探到的不同元素，也可其它層都有，這一層不含有此元素；B、所關(guān)注的元素在當(dāng)層中含量均勻；C、有可對(duì)比的標(biāo)樣或者數(shù)據(jù)。
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你們儀器的精確度和準(zhǔn)確性怎么樣？
答： 儀器的精度由于樣品和厚度的不同，其測(cè)量的精度不同，以單層Fe 鍍Ni為例：0.5微米到20微米的厚度其偏差在5%以內(nèi)；超薄和超厚的鍍層其偏差回逐漸加大。
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你們的儀器檢測(cè)與權(quán)威檢測(cè)機(jī)構(gòu)的檢測(cè)有何區(qū)別？有多大偏差？
答： X熒光光譜儀采用的是物理方法，它具備了無(wú)損樣品、快速、前處理簡(jiǎn)單等方面的優(yōu)勢(shì)。而別的方法，如掃描電鏡法，是精準(zhǔn)測(cè)量，但前期處理復(fù)雜，設(shè)備昂貴。對(duì)于密度均勻材料的檢測(cè)中兩者之間偏差不超過10%，完全可以滿足對(duì)工業(yè)運(yùn)用分析的目的。
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現(xiàn)在有些工廠和實(shí)驗(yàn)機(jī)構(gòu)，已用什么方式測(cè)試鍍層厚度的？好與壞？
答： 測(cè)試方法很多，而且應(yīng)用在不同的產(chǎn)品和行業(yè)，其檢測(cè)方法也是不同的，每種儀器的優(yōu)勢(shì)也是各不相同，何種儀器好，還要看客戶應(yīng)用領(lǐng)域和實(shí)際測(cè)試的樣品。X熒光測(cè)厚方法其無(wú)損、快速、測(cè)量范圍廣、測(cè)量面積小，已經(jīng)成為多數(shù)行業(yè)選擇。
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儀器報(bào)告生成方式？
答： 儀器的生成報(bào)告分為三種即全分析報(bào)告、Excel和Word三種報(bào)告格式。
